| 품명 | 막후계 |
| 형식 | LZ-373 |
| 제조사 | 케쯔토 과학 연구소 |
| 무료슬롯체험 방법 |
전자 유도/와전류 겸용 |
| 무료슬롯체험 대상 | 자성체의 비자성 코팅 및 비자성 금속의 절연 코팅 |
| 무료슬롯체험 범위 | 電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils
와전류식: 0~1200μm 또는 47.0mils |
| 무료슬롯체험 정확도 | 50μm未満：±1μm
50μm 이상 1000μm 미만: ±2% 1000μm 이상: ±3% |
| 분해능 | 100μm未満：0.1μm
100μm 이상: 1μm |
| 적합 표준 | 電磁誘導式
JIS K5600-1-7, JIS H8501, JIS H0401 ISO 2808, ISO 2064, ISO 1460, ISO 2178, ISO 19840 BS 3900-C5 ASTM B 499, ASTM D 7091-5, ASTM E 376 와전류식 JIS K5600-1-7, JIS H8680-2, JIS H8501 ISO 2808, ISO 2360, ISO 2064, ISO 19840 BS 3900-C5 ASTM D 7091-5, ASTM E 376 |
| 데이터 메모리 수 | 약 39,000점 |
| 검량선 메모리 | (응용 프로그램 메모리) 전자 유도식 50개, 와전류식 50개의 검량선을 기억 |
| 탐침 | 일점 접촉 정압식(LEP-J, LHP-J) |
| 표시 방법 | 디지털(백라이트가 있는 LCD, 표시 최소 자리수 0.1μm) |
| 외부 출력 | PC(USB 또는 RS-232C) |
| 전원 | 100시간(백라이트 비점등 시, 연속 사용) |
| 사용 온도 범위 | 0~40℃ |
| 추가 기능 | 각종 기능 16종 |
| 치수/질량 | 75(W)×145(D)×31(H)mm/0.34Kg |
■ 퀵 매뉴얼(사진을 클릭하면 확대됩니다)
1. 액세서리 확인
①표준판 6종류
②금속판 케이스
③본체
④검정 프로브(무료슬롯체험 대상이 철인 경우에 사용. 전자 유도식.)
⑤ 회색 프로브(무료슬롯체험 대상이 비철인 경우에 사용. 과전류식.)
⑥알루미늄 판
⑦철판
2. 무료슬롯체험 방법
① 본체에 프로브를 연결합니다.
무료슬롯체험 대상 재료에 맞게 프로브를 선택합니다.
※무료슬롯체험 대상이 「철인 경우는 검은색」「비철인 경우는 회색」
②출하시에 부속품의 소지에서 조정을 하고 있습니다.
③무료슬롯체험 대상의 도막을 무료슬롯체험합니다.
3.소재 보정(표준판 조정)
측정 대상의 소지에서 소재 보정을 실시함으로써, 보다 정밀하게 무료슬롯체험 수 있습니다.
① 사진과 같이 금속판을 표준판 케이스에 넣고 본체와 프로브를 연결합니다.
②【왼쪽 화살표(스크롤 키)】 → 조정→【ENT(엔터키)】를 선택합니다.
③ 무료슬롯체험 대상에 가까운 두께의 표준판을 4장 선택한다.
④화면에 【표준판0】이 표시되어 있는지 확인합니다.
⑤ 무료슬롯체험값을 0에 맞춥니다.
⑥ ③에서 선택한 표준판을 올려 5~6회 무료슬롯체험한다. 무료슬롯체험 후【ENT】→【표준판의 두께】→【ENT】를 선택한다 에 표기하고 있습니다.
⑦ 정밀도를 높이기 위해 ③ 표에서 선택한 나머지 3장의 표준판을 사용하여 마찬가지로 ⑥의 흐름으로 보정을 실시해 주십시오. 는 기억됩니다.
⑧4점(소지와 표준판 3장) 이하에서 조정하는 경우는 필요한 매수만큼 표준판에 의한 조정을 실시 ⑥의 흐름 후 다시 [ENT]를 선택해 주십시오.
이상